The two concepts of measuring impedance and subcircuit impedance are analyzed.
对测阻
、支接阻
这两个概念进行了分析。
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This article presents an image reconstruction method for open electrical impedance tomography (OEIT) combined with inversion mapping and contour representation to address the profile and medium distribution measurement requirements of adhesion cavitation.
本文出了一种用于开放式电阻抗层析成像(OEIT)
图像重建方法,结合了反转映射和轮廓表示,
解决粘附空化
轮廓和介质分布测量需求。